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設備の紹介 走査型電子顕微鏡
設備情報
用途・試験内容
・ 試験品の微小領域の拡大観察と観察箇所の元素分析を行います。
製造メーカ 機種・型式
・ 日本電子株式会社 SEM：JSM-6510LV EDS：JED-2300
仕様・性能
観察倍率：5～300,000倍
試料サイズ：最大φ32×h 38mm
EDS検出元素：Be～U
低真空モード：有
試料サイズ：最大φ32×h 38mm
EDS検出元素：Be～U
低真空モード：有
図・写真・資料
↓ 走査型電子顕微鏡
注意事項
・ 試料によっては、仕様を満たしていても観察や分析ができない場合がありますので、あらかじめ観察や分析の内容をご相談ください。
その他
・ 平成23年度 公益財団法人JKA補助事業
