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走査型電子顕微鏡
| 型式 | JSM-IT300LA |
|---|---|
| 製造者 | 日本電子(株) |
| 用途 | 走査型顕微鏡は観察対象物に向けて電子線を照射し、そこから放出される二次電子を検出器で拾って、その信号を増幅させることにより拡大観察・元素分析を行う装置です。当機器は低真空モードを備えており、導電性がない試料の観察のほか、元素分析や三次元化処理が可能です。 |
| 仕様 | ・倍率：５～300,000倍 ・分解能：高真空モード 3.0 nm(30 kV) 15.0 nm(1.0 kV) 低真空モード 4.0 nm(30 kV BED) ・低真空圧力設定範囲：10～650 Pa ・最大試料寸法：200mm径 80mm高さ ・エネルギー分散型Ｘ線分析装置(EDS)付 |
| 貸付名称 | 走査型電子顕微鏡 |
| 貸付料金（1時間） | 2,160 円／時間（県外居住者の場合、５割加算となります。） |
| 導入年月 | 2016/12 |
| 設置機関 | |
| 分類 | 光学的測定 |
