本文
Ｘ線マイクロアナライザー
| 型式 | JXA-8100 |
|---|---|
| 製造者 | 日本電子(株) |
| 用途 | 電子ビームを試料に照射し、発生する特性Ｘ線の波長や強度などを測定することによって、試料の構成元素の定性や定量、分布状態などをミクロからマクロの領域まで、非破壊で分析できます。 ・炭素、酸素、窒素などの軽元素と同時に金属元素などを検出することが可能です。また、１ミクロン程度の微小異物の測定が可能です。微小異物の元素情報、腐食などの酸化分布の測定に適しており、材料の組成分析や不純物分析、異物分析などに広く活用されています。 |
| 仕様 | １．電子光学系 電子銃：W及びLaB6 加速電圧：0.2～30kV 照射電流範囲：10E-12A～10E-5A 二次電子像分解能：6nm(W),5nm(LaB6) 倍率：40～300,000倍 ２．Ｘ線分光系 分析元素範囲：B～U 分光器：4基 ローランド円半径：高感度用(100mm)及び高分解能用(140mm) 分光結晶：TAＰＨ,LiFH,PETH,LDE1H,TAP,LiF,PET,LDE2 ３．試料ステージ系 最大試料：100×100×50mm 分析領域：90mm×90mm ４．分析ソフト 定性・定量・半定量・線分析（斜め方向も可）・マッピング（湾曲面も可） |
| 貸付名称 | Ｘ線マイクロアナライザー |
| 貸付料金（1時間） | 2,030 円／時間（県外居住者の場合、５割加算となります。） |
| 導入年月 | 2004/01 |
| 設置機関 | |
| 分類 | 機器分析 |
