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蛍光X線分析装置

印刷 文字を大きくして印刷 ページ番号:0679134 更新日:2025年4月1日更新
型式 波長分散型蛍光X線分析装置 ZSX PrimusⅡ
製造者 理学電機工業(株)
用途 試料にX線を照射し、発生する特性X線を分析することで、含有元素の検出と半定量を行います。
・元素組成および不純物の半定量分析や元素の定量分析(要標準試料)ができます。鋼、セラミックス、鉱物、ガラス、ゴム、プラスチック、紙などに用いられます。
仕様 分光系   :波長分散方式
X線照射方式:上面照射型
X線管球  :4kW,Rhターゲット,エンドウィンド型
出力範囲  :60kV,150mA
測定元素範囲:B~U
試料測定径 :0.5,1,10,20,30,35mmφ
貸付名称 蛍光X線分析装置
貸付料金(1時間) 1,900 円/時間(県外居住者の場合、5割加算となります。)
導入年月 2006/11
設置機関

下越技術支援センター

分類 機器分析
蛍光X線分析装置
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