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ものづくり企業への技術支援体制を拡充
工業技術総合研究所下越技術支援センターに「EMIテストレシーバ」を、 県央技術支援センターに「顕微赤外分光分析装置」を設置しました
工業技術総合研究所では、公益財団法人JKA 2022年度「機械振興補助事業」の活用により、「EMIテストレシーバ」を下越技術支援センターに、「顕微赤外分光分析装置」を県央技術支援センターに設置しました。ものづくり企業の技術の高度化に繋がるよう、多くの企業の皆様からのご利用をお待ちしております。
EMIテストレシーバ

【装置の概要】
電界強度計およびスペクトラムアナライザの機能を有し、電気電子機器、無線通信機器、電子回路や電子デバイス等の電気的性能を測定するための装置です。機器から発生する妨害電磁波(EMI:Electromagnetic interference)の測定を主機能として、回路信号や無線通信信号の性能測定を行うことができます。
電界強度計およびスペクトラムアナライザの機能を有し、電気電子機器、無線通信機器、電子回路や電子デバイス等の電気的性能を測定するための装置です。機器から発生する妨害電磁波(EMI:Electromagnetic interference)の測定を主機能として、回路信号や無線通信信号の性能測定を行うことができます。
【主な仕様】
・測定周波数範囲:1 Hz~44 GHz
・周波数分解能:0.01 Hz
・測定確度:±0.59 dB
・入力数:2 ポート
・測定ポイント数:4,000,000 (最大)
・タイムドメインスキャン機能搭載
・適合規格:CISPR16-1-1, ANSI C63.2, MIL-STD-461
・測定周波数範囲:1 Hz~44 GHz
・周波数分解能:0.01 Hz
・測定確度:±0.59 dB
・入力数:2 ポート
・測定ポイント数:4,000,000 (最大)
・タイムドメインスキャン機能搭載
・適合規格:CISPR16-1-1, ANSI C63.2, MIL-STD-461
顕微赤外分光分析装置

【装置の概要】
試料に赤外光を照射すると得られる吸収スペクトルから、物質の同定や分子構造の推定を行う装置です。付着物や混入物など異物の同定のほか、酸化劣化などの化学構造変化、結晶性や結晶化度、配向などの高次構造の解析もできます。また、赤外顕微鏡を用いることで微小物の測定が可能です。
試料に赤外光を照射すると得られる吸収スペクトルから、物質の同定や分子構造の推定を行う装置です。付着物や混入物など異物の同定のほか、酸化劣化などの化学構造変化、結晶性や結晶化度、配向などの高次構造の解析もできます。また、赤外顕微鏡を用いることで微小物の測定が可能です。
【主な仕様】
・測定波数範囲:7800~350cm⁻¹
(顕微の場合7800~600cm⁻¹)
・最高分解能:0.4cm⁻¹
・付属品:一回反射ATRアタッチメント、高感度反射測定アタッチメント、ガスセル、赤外偏光子
・測定波数範囲:7800~350cm⁻¹
(顕微の場合7800~600cm⁻¹)
・最高分解能:0.4cm⁻¹
・付属品:一回反射ATRアタッチメント、高感度反射測定アタッチメント、ガスセル、赤外偏光子
報道提供資料
関連リンク
CYCLE(競輪とオートレースの補助事業)<外部リンク>
公益財団法人JKA<外部リンク>
このページに関する問い合わせ先
新潟県工業技術総合研究所
〒950-0915 新潟市中央区鐙西1-11-1
電話:025-247-1301 ファクシミリ:025-244-9171
〒950-0915 新潟市中央区鐙西1-11-1
電話:025-247-1301 ファクシミリ:025-244-9171
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